布鲁克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射线衍射仪，采用创造性的达芬奇设计，通过TWIN-TWIN光路设计，成功实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换，而无需对光。通过TWIST TUBE技术，使用户可以进行双微焦斑单晶X射线衍射仪检测。

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更新时间：2024-09-12

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三维X射线显微镜（XRM）

D6 Phaser SKYSCAN 2214 CMOS版 D8

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双微焦斑单晶X射线衍射仪检测

项目	细则	收费	说明
室温测试	整套数据3h以内；一般要求警惕尺寸大于50μm；整套数据 3h 以上，另需额外收费 150 元/时	/	1.长时间数据手机（大于5h）、复杂样品等特殊测试，价格需面议
结构解析	解析结构；孪晶、复杂结构、不对称单元内非氢原子个数大于 100 等价格面议	/
低温耗材	低温测试时使用液氮	/
晶胞参数确定	室温测定	/
晶向确定	室温测定	/
粉末衍射	室温测定单一谱图，每样每次长扫描 15min，延长时间按 50 元/15min（校外按 100 元/15min）计，不足 15min 按 15min 计	/
广角散射	每样每次长扫描 15min，延长时间按 50 元 /15min（校外按 100 元 /15min）计，不足 15min 按 15min 计	/

双微焦斑单晶X射线衍射仪检测

布鲁克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射线衍射仪，采用创造性的达芬奇设计，通过TWIN-TWIN光路设计，成功实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换，而无需对光。通过TWIST TUBE技术，使用户可以在1分钟内完成从线光源应用（常规粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到点光源应用（织构、应力、微区）的切换，让烦人的光路互换、重新对光等问题从此成为历史！
高精度的测角仪可以保证在全谱范围内的每一个衍射峰（注意不是一个衍射峰）的测量峰位和标准峰位的误差不超过0.01度，布鲁克AXS公司向大家提供保证！
*的林克斯阵列探测器可以提高强度150倍，不仅答复提高设备的使用效率，而且大幅提高了设备的探测灵敏度。

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