Omega/Theta XRD Mapping面扫功能扫台允许使用受控的网格模式来探索整个样品表面。Omega/Theta XRD可以很容易地在转盘顶部容纳额外的XY定位平台。样品表面可以根据用户定义的网格进行扫描。由于样品上X射线光斑的大小，小的网格间距约为1毫米。

留言框

• 产品：

• 您的单位：

• 您的姓名：

• 联系电话：

• 常用邮箱：

• 省份：

  请选择您所在的省份 安徽 北京 福建 甘肃 广东 广西 贵州 海南 河北 河南 黑龙江 湖北 湖南 吉林 江苏 江西 辽宁 内蒙古 宁夏 青海 山东 山西 陕西 上海 四川 天津 新疆 西藏 云南 浙江 重庆 香港 澳门 中国台湾 国外

• 详细地址：

• 补充说明：

• 验证码：

  

  请输入计算结果（填写阿拉伯数字），如：三加四=7