技术文章
TECHNICAL ARTICLES论文来源:K.Sporlederetal.,QuicktestforreversibleandirreversiblePIDofbifacialPERCsolarcells部分摘要:双面PERC电池背面PID会导致严重的功率损失。与单面PERC太阳能电池相比,可以发生可逆的去极化相关电位诱导衰退(PID-p)和不可逆的腐蚀电位诱导衰退(PID-c)。研究表明,一个可靠的评估太阳能电池功率损失的方法需要一种改进的PID测试方法,需要在高压测试上附加光照。此外,还需要在测试方案中...
衍射数据库卡片又称为晶体结构卡片或者晶胞卡片,是一种用于描述晶体结构信息的标准化格式。这些卡片通常包含着晶体学家在分析晶体时所得到的重要数据,例如晶格参数、空间群、原子坐标等等。衍射卡片可以作为研究晶体结构的基础,也可以作为共享晶体结构信息的重要途径。衍射数据库卡片最初由国际晶体学联合会(IUCr)于1965年提出,并于1985年进行了更新。目前有多个常用的衍射卡片标准,包括CIF(CrystallographicInformationFile)、PDB(ProteinDat...
X射线三维显微镜(X-ray3Dmicroscopy)是一种可以在纳米尺度下对样品进行成像的技术。它能够提供高分辨率的三维结构信息,能够在材料科学、生物医学、纳米技术等领域发挥重要作用。X射线三维显微镜的工作原理基于X射线的特性。当X射线射入样品时,样品中的物质会吸收、散射或反射部分光子。通过探测器记录这些光子,就可以推断出样品的三维结构。与传统的两维投影成像不同,三维显微镜可以获取大量的数据,并使用计算机算法将这些数据转换为三维图像。这种技术通常需要使用X射线聚焦光束,以获...
晶圆片晶锭寿命检测仪是一种重要的设备,用于测试半导体器件的质量和寿命。它是半导体工业中不可缺少的关键设备之一。晶锭寿命检测仪采用高精度测量技术,能够检测和分析晶圆片和晶锭的性能、品质和寿命。在半导体工业中,晶圆片和晶锭是制造芯片的主要原材料,所以其质量和寿命非常重要。晶锭寿命检测仪可以通过对晶圆片和晶锭进行测试,评估其质量是否达标,并选择适合的材料进行生产。晶圆片晶锭寿命检测仪主要由测试器、控制系统和软件组成。测试器是检测仪的核心部分,它可以对晶圆片和晶锭的性能和寿命进行精准...
PDF衍射卡片,顾名思义,是一种使用衍射原理来读取信息的卡片。这种卡片的设计利用了特殊的图案,当这些图案与光线相遇时,会产生衍射光,从而生成一些奇妙的图像和信息。衍射卡片的制作非常简单,只需将需要显示的图案印在卡片上,并将卡片与光源垂直放置,便可展现出独特的效果。PDF衍射卡片在生活中有很多实用的应用,如:用于身份验证,防伪和保安系统。此外,衍射卡片也被广泛用于教育和娱乐领域中,例如制作幻觉图案、探索光学奥秘等等。在教育领域中,衍射卡片常常被用来帮助学生了解光学原理。通过观察...
TOC总有机碳分析仪采用便携式设计,使用起来十分轻便,方便移动至取样点,采用嵌入式系统,触摸屏设计,纯中文操作方便简单,针对制药用水总有机碳含量的检测设计,进行检测,配备大量的储存空间,能够存储大量的测试数据,在使用、贮存和更换过程中不需要气体或试剂,无移动部件,减少维修和维护成本。当测试样品浓度超过规定限度,会触发仪器的自动报警功能,并输出控制信号,这个功能在测定TOC值时十分有用。TOC总有机碳分析仪适用范围:1、该仪器用于测试纯水、制药工业去离子水和注射用水的有机碳含量...
TOC总有机碳分析仪是指用于测定溶液中的总有机碳(TOC)的仪器。其测定原理是溶液中有机碳经氧化转化为二氧化碳,在消除干扰物质后由检测器测得二氧化碳含量。利用二氧化碳与总有机碳之间碳含量的对应关系,对溶液中的总有机碳进行定量测定。TOC总有机碳分析仪由三个主要类别组成:燃烧氧化,湿氧化和光催化氧化。(1)燃烧氧化法燃烧方法测量总碳(TC)。它需要通过注射器将样品注入带有铂或钴催化剂的高温炉中。该过程将存在的所有碳材料氧化成CO2。(2)湿式氧化-过硫酸盐氧化/NDIR方法这种...
下面小编给大家讲讲激光拉曼光谱仪的使用包括调试、操作、维护和存放:一、注意做好仪器的测试调试:激光拉曼光谱仪完成交付之后,生产商和研究专家都会提醒要根据不同的研究场合而对拉曼光谱仪进行前期的测试和调试,这样才能让它以最合适的状态来为我们的科研分析服务,而且这对科研分析数据的有效性也是一种保障。二、注意做好操作的规范性:对不同时候不同条件下的研究实验分析情况,对拉曼光谱仪的操作都要讲究科学性和规范性,特别是注意在拉曼光谱仪操作时的手法和步骤,这不但能保证研究过程的有条不紊,更能...
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