XPS作为一种表面灵敏的分析技术，可以探测样品表面10nm以内的信息，而在材料分析中深度分析是获取不同深度下组分和化学态信息的重要方法。在XPS深度分析中，有3个采样深度值得关注：（1）0-10nm，这是基于常规AlKαX射线XPS的探测深度，对于超薄膜层结构的深度分析可以通过变角度XPS实现；（2）0-30nm，这是基于硬X射线XPS(HAXPES)的探测深度，可以通过切换X射线能量进行无损深度分析；（3）0-1000nm，需要采用离子束剥离的破坏性深度剖析。氩离子刻蚀是常...

X射线衍射（XRD）是表征有序材料结构的重要工具。高角度的相干散射可以反映原子的排列。在非常低的角度也可以观察到相干信号，这些信号可以用来表征分子筛材料（比如ZSM-41或SBA-15）中圆柱形孔的周期性排列。案例分析低角度数据采集需要严格控制空气散射和照在样品上的光斑面积。通过适当地选择一个固定尺寸的主光路发散狭缝和一个固定的防空气散射屏，可控制上述的两个条件。在D6PHASER上使用动态光束优化(DBO)系统，从而使光路和光斑的控制更加的方便和优化可调。DBO包含可变发散...

固体的电学、光学和化学性质深受其占据态（occupiedstate）和非占据态（unoccupiedstate）电子结构的共同影响。在半导体材料中，费米能级两侧的电子结构对杂质掺杂、能带调控以及器件的研发与应用至关重要，尤其是非占据态能级结构，它直接决定了电荷的转移和输运性能。虽然占据态的电子信息可通过光电子能谱，如XPS和UPS来解析，但由于非占据态没有电子填充，传统的光电效应方法无法有效获取其能带信息。为了深入探索非占据态的信息，我们需要借助反光电子能谱（InverseP...

面是指固体表面一个或数个原子层的区域，是与外界进行物质交换和能量交换的通道，其性质（如化学组成、原子排列、电子状态等）与体相具有诸多不同，但是材料的表面行为往往决定了材料/器件的功用和性能。因此，表面分析对于新材料、新技术的研发至关重要。常用的表面分析技术主要有XPS、AES和TOF-SIMS等，其中，AES技术能够实现对纳米尺度特征的表面进行化学分析。俄歇电子能谱仪（AugerElectronSpectroscopy，AES）采用场发射电子源入射样品的表面，激发出二次电子（...

在使用二次离子质谱（SIMS）技术对样品进行定量分析时，常遇到一系列棘手的问题：即便在浓度相同、测试条件一致的情况下，同一组分在不同的化学环境中二次离子产额可能跨越几个数量级；此外，即便同一组样品，使用相同设备和实验条件、在不同时间段内测到的二次离子信号强度也可能会有所差异。在SIMS分析中，常将实验条件和样品化学性质差异等因素导致二次离子产额发生变化的现象统称为基体效应（matrixeffect）。在这期文章，我们将介绍SIMS分析中的基体效应，并分析基体效应对SIMS测试...

Ti-6Al-4V是一种典型的α+β型两相钛合金，在航空、医疗器械、舰船等方面应用普遍。鉴于钛对氧的亲和性好，电子束熔炼（EBM）是钛合金增材制造推荐工艺。然而，在EBM工艺中，只有部分粉末会熔化和凝固，为节省成本，合理利用资源，对于用过的且符合特定化学成分的Ti-6Al-4V粉末需要进行筛分、回收和重复利用。为进一步研究Ti-6Al-4V粉末在重复使用过程中表面局部位置形貌和化学变化，本案例对多次回收的粉末做了详尽的AES（PHI700）和XPS（PHI5000VersaP...

带隙（BandGap），亦被称为禁带宽度，是半导体材料的重要参数之一。它不仅揭示了价电子被束缚的紧密程度，还是衡量半导体光学性能*与否的重要指标。此外，带隙决定了激发该半导体所必须的较小能量阈值。在光电转换器件，如太阳能电池和发光二极管等领域，带隙的测量对深入理解半导体的电学和光学特性，以及探索其实际应用价值，具有不可替代的物理和现实意义。过去，科研人员主要通过循环伏安法或结合UPS与光学吸收法来测量带隙和能级排列。然而，随着反光电子能谱技术（InversePhotoemis...

锂离子电池具有自放电小、开路电压高、能量密度大、循环寿命长等优点，自问世以来就备受关注。但是，锂离子电池采用含有机溶剂的液体电解质，存在不容忽视的安全隐患。对此，全固态电池（ABBS）应运而生，因其电解质在内的所有组件都是固态的，在安全性和热稳定性上有着明显优势，已然成为新能源、储能技术、材料科学等领域的研究热点。然而，电极与固体电解质之间的界面存在着来源尚不明确的电阻，成为影响ABBS实际应用的较大障碍之一。因此，利用有效的表面分析技术研究SE/阴极界面的相互作用，对提高全...